A^III B^III C_2^VI tabanlı yarıiletken cihazların kapasitans, dielektrik ve admitans spektroskopisi yöntemleriyle incelenmesi

Basit Öğe Kaydı
dc.contributor.advisorSeyitsoy, Mirhasan
dc.contributor.authorGören, Serdar
dc.date.accessioned2025-10-29T09:22:37Z
dc.date.issued2024
dc.departmentEnstitüler, Lisansüstü Eğitim Enstitüsü, Fizik Ana Bilim Dalı
dc.description.abstract[Abstract Not Available]
dc.identifier.endpage203
dc.identifier.startpage1
dc.identifier.urihttps://tez.yok.gov.tr/UlusalTezMerkezi/TezGoster?key=UjlM15wKZGQW6TLC0pvCt6BdJtfvzWkRgOtQojC3KgNpU4uidwsrKimq09vybTtn
dc.identifier.urihttps://hdl.handle.net/20.500.14854/48
dc.identifier.yoktezid894950
dc.institutionauthorGören, Serdar
dc.language.isotr
dc.publisherGebze Teknik Üniversitesi, Lisansüstü Eğitim Enstitüsü
dc.relation.publicationcategoryTez
dc.rightsinfo:eu-repo/semantics/openAccess
dc.snmzKA_TEZ_20251020
dc.subjectFizik ve Fizik Mühendisliği
dc.subjectPhysics and Physics Engineering
dc.titleA^III B^III C_2^VI tabanlı yarıiletken cihazların kapasitans, dielektrik ve admitans spektroskopisi yöntemleriyle incelenmesi
dc.title.alternativeAnalysis of A^III B^III C_2^VI based semiconductor devices by capacitance, dielectric and admittance spectroscopy methods
dc.typeDoctoral Thesis

Dosyalar

Koleksiyon

Lisansüstü Eğitim Enstitüsü Tez Koleksiyonu