Surface study of TlGaSe2 and TlInS2 layered crystals
Yükleniyor...
Dosyalar
Tarih
Yazarlar
Dergi Başlığı
Dergi ISSN
Cilt Başlığı
Yayıncı
Gebze Teknik Üniversitesi, Lisansüstü Eğitim Enstitüsü
Erişim Hakkı
info:eu-repo/semantics/openAccess
Özet
Bu tez çalışmasında, TlGaSe2 ve TlInS2 kristallerinin dış elektrik alan altında oluşan mekanizmalarının anlaşılması için X-Ray Yansıma (XRR), X-ray Kırınım (XRD) ve Atomik Kuvvet Mikroskop'u (AFM) metodlarıya çalışmalası yapıldı.
In this thesis, surface properties of TlGaSe2 and TlInS2 crystals were studied to understand the physical model of such crystals under the effect of an external electric field using X-Ray Reflection (XRR), X-ray Diffraction (XRD) and Atomic Force Microscopy (AFM) methods.
Açıklama
Anahtar Kelimeler
Fizik ve Fizik Mühendisliği, Physics and Physics Engineering
