CoPt ince filminin yüzey ve manyetik karakterizasyonu

Abstract

Yapılan bu çalışmada Co-Sputter tekniği ile hazırlanan CoPt ince filmlerinin manyetik özellikleri Ferromanyetik Rezonansı (FMR) tekniği ile yüzey özellikleri de XPS tekniği ile incelendi.FMR spektrumları manyetik alanın farklı uygulanma doğrultuları için 300 0K sabit sıcaklığında tespit edildi. Out of plane konumda farklı açılarla uygulanan manyetik alan sonucunda elde edilen piklerin deneysel olarak beklenen FMR pikleri olduğu anlaşıldı. Uygulanan manyetik alanın doğrultusu değiştirildikçe elde edilen piklerin rezonans alanlarının değiştiği gözlendi. Bu değişim; alan, film normali doğrultusuna yaklaştıkça mıknatıslanmanın zorlaştığı, film normali doğrultusundan uzaklaştıkça mıknatıslanmanın kolaylaştığı şeklindedir.Bu çalışma sonucunda etkin manyetik anizotropi, doyum mıknatıslanması ve etkin g- faktörü hakkında bilgi edinildi.Ayrıca hazırladığımız ince filmlerin XPS spektrumları incelendi. Elde edilen XPS pikleri sonucunda da hazırlanan örneğin değişik stekiometrik oranlarda hazırlanmak istenen CoPt olduğu tespit edildi ve kalınlık tayini yapıldı. Böylelikle filmlerimizin manyetik karakterizasyonuna ek olarak yüzey karakterizasyonu da incelendi.Elde edilen veriler sonucunda örneklerin XPS ve FMR teorik analizleri yapıldı.

In this thesis, we studied the magnetic properties with Ferromagnetic Resonance Technique (FMR) and surface properties with X-ray Photoelectron Technique (XPS) of CoPt thin films which is prepared with Co-Sputter Technique.FMR spectrums for different applied direction is determined at 300 0K constant tempreature. We realized that we get expected picks of FMR to experimental which is applied into different angles at state of out-of-plane. We observed that the resonance fields of picks are changing with the exchange direction of magnetic field. This variation is that magnetisation is forced for the magnetic field is approaching the normal of film and is getting easy for the field is leaving the normal of film.The result of in this study we informed about active magnetic anisotropy, saturated of magnetism and active g-factor.Besides this we research the spectrum of XPS for our thin films. It determined that according to the picks of XPS, the films are CoPt which are different stykiometrik ratio and than we determined the thickness of films. So we studied the characteristation of surface with the characteristation of magnetic.According to getting datas it analysed that theoretical XPS and FMR.